背景
隨著經(jīng)濟的迅猛發(fā)展,日趨嚴峻的能源與環(huán)境問題成為人們關(guān)注的焦點。LED相比較傳統(tǒng)照明光源擁有環(huán)保、節(jié)能和壽命長的優(yōu)點,已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)照明光源成為主要照明光源。在全球照明行業(yè)進行LED全面革命的浪潮下,全球很多國家都在推行LED照明產(chǎn)品標準的制定、測試和認證,以規(guī)范和推動LED市場的良性蓬勃發(fā)展,其中以美國的LED照明能源之星認證走在世界最前列。由于LED發(fā)熱量大,導致LED的光衰大,從而影響其壽命,光衰和壽命是目前燈具以及LED封裝廠家急需解決的難題。所以,壽命和光衰是出口至美國市場和獲得能源之星認證的LED照明廠家最為關(guān)注的問題。
定義
能源之星(Energy Star)是一項由美國政府——美國環(huán)保署(EPA)與能源部(DOE)所主導,并結(jié)合產(chǎn)品制造業(yè)、零售業(yè)共同參與,主要針對消費性電子產(chǎn)品的能源節(jié)約計劃。
LM-80是以實驗室數(shù)據(jù)加上數(shù)學統(tǒng)計模式獲得一致性的壽命數(shù)據(jù),使得LED器件所進行的光衰和壽命測試數(shù)據(jù)與LED成品燈的光衰和壽命數(shù)據(jù)兩者獲得一致性和共通性,也更使得LED成品燈具可以參考LED器件所進行的光衰與壽命測試數(shù)據(jù)。而且,EPA(美國環(huán)保署)針對LED照明成品所頒發(fā)的能源之星標準也以此方法作為LED燈珠與成品照明光衰和壽命的判斷標準。
為什么要做LM-80
美國政府強力支持能源之星認證,同時規(guī)定對銷售有能源之星認證產(chǎn)品的廠家和使用的家庭進行補貼,并要求聯(lián)邦政府機構(gòu)選擇有能源之星(Energy Star)認證的產(chǎn)品。目前越來越多的美國客戶要求做能源之星認證,做了能源之星認證的產(chǎn)品在美國市場的價格會非常有競爭力,同時滿足現(xiàn)代人對節(jié)能環(huán)保的高要求。雖然能源之星不是美要強制性的認證要求,但要想在美國市場做好,一定要做能源之星認證。要做能源之星認證首先就要提供燈珠的LM-80測試報告,有了LM-80報告,燈具做DLC認證除了可以節(jié)約3000小時的時間,還可以節(jié)省一筆不菲的測試費用。這為燈具生產(chǎn)商節(jié)約了3000小時的時間,也就是說有LM80報告,生產(chǎn)商的產(chǎn)品可以提前4個月在美國上市,更快更早的面向客戶,因此,封裝廠商做LM-80測試是封裝產(chǎn)品走向美國的必要條件。
金鑒做LM-80的優(yōu)勢
金鑒檢測LED能效測試中心,擁有完備的老化實驗設(shè)備、老化場地,以及能源之星(Energystar)認可的光電測試設(shè)備,并獲得美國北美照明學會 (IESNA)的LED光電測試 LM 80標準、能源之星等光電性能測試資格,被“國際認可機構(gòu)(International Accreditation Service )”授權(quán)認可,在行業(yè)中是十分具有知名度和廣泛接受度的第三方檢測認證機構(gòu)。

LM-80測試色溫分布
壽命推算結(jié)果
Test Condition 1 - 55?C Case Temp
Sample size90
Number of failures0
DUT drive current used in the test (mA)30
Test duration (hours)6,000
Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000
Tested case temperature (?C)55
α5.87E-06
B1.007
Reported L70(6k) (hours)>36000
Test Condition 2 - 85?C Case Temp
Sample size90
Number of failures0
DUT drive current used in the test (mA)30
Test duration (hours)6,000
Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000
Tested case temperature (?C)85
α5.49E-06
B1.003
Reported L70(6k) (hours)>36000
Test Condition 3 - 100?C Case Temp
Sample size90
Number of failures0
DUT drive current used in the test (mA)30
Test duration (hours)6,000
Test duration used for projection(hour to hour)1,000 - 6,000
Tested case temperature (?C)100
α5.78E-06
B1.002
Reported L70(6k) (hours)>36000
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