UI110A06是一個(gè)6通道電池單體仿真器，每個(gè)通道能夠提供高達(dá)7V和300mA驅(qū)動(dòng)負(fù)載。每個(gè)通道與接地和彼此允許串聯(lián)連接成一系列電池仿真的通道是完全隔離的，隔離電容為750V的屏障，可以允許UI110A06用來(lái)仿真構(gòu)建一個(gè)用于車輛行駛的小型低功率電池堆。
--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 模擬電池通道 6
- 每通道輸出電壓 0-5V穩(wěn)定可調(diào)
- 每通道電壓精度 正負(fù)1-2mV
- 每通道輸出均衡電流 0-1A
- 每通道吸收電流 0-300mA（16檔可調(diào)）
- 負(fù)載響應(yīng)時(shí)間 250us
- 隔離電壓 正負(fù)750V
- 計(jì)算機(jī)通訊接口 LAN
--- 數(shù)據(jù)手冊(cè) ---
--- 產(chǎn)品詳情 ---
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100M動(dòng)態(tài)數(shù)字功能板卡（Timing，PPMU）2022-02-21 11:29
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MEMS芯片測(cè)試板卡2021-12-08 14:49
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BMS測(cè)試系統(tǒng)2021-12-02 10:58
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對(duì)于半導(dǎo)體測(cè)試特別是集成了復(fù)雜IP的芯片，要完整記錄各項(xiàng)DC,AC,功能性測(cè)試等等生成的龐大數(shù)據(jù)，還要和芯片的生產(chǎn)批次，生成時(shí)間，測(cè)試機(jī)臺(tái)等信息組合起來(lái)，那不能無(wú)序簡(jiǎn)單地堆砌成一個(gè)文件了事。這樣會(huì)造成后期解析分析非常困難。同時(shí)考慮到各個(gè)EDA大廠生成的測(cè)試pattern的格式不同，ATE的解析和測(cè)試結(jié)果的生成格式不同。那在生產(chǎn)環(huán)境可能就有多種組合產(chǎn)生，如果你148瀏覽量 -
半導(dǎo)體行業(yè)知識(shí)專題九：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備深度報(bào)告2026-01-23 10:03
（一）測(cè)試設(shè)備貫穿半導(dǎo)體制造全流程半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈核心裝備，涵蓋晶圓測(cè)試、封裝測(cè)試及功能驗(yàn)證等環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備貫穿于集成電路制造的全生命周期，且因半導(dǎo)體生產(chǎn)流程極其復(fù)雜，為了防止壞品流入下一道高成本工序，測(cè)試必須分段進(jìn)行，主要在晶圓制造后的CP測(cè)試與封裝后的FT測(cè)試兩大核心環(huán)節(jié)發(fā)揮決定性作用：CP測(cè)試（CircuitProbing/Wafe1473瀏覽量 -
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半導(dǎo)體產(chǎn)品的附加價(jià)值高、制造成本高，且產(chǎn)品的性能對(duì)于日后其用于最終電子商品的功能有關(guān)鍵性的影響。因此，在半導(dǎo)體的生產(chǎn)過(guò)程中的每個(gè)階段，對(duì)于所生產(chǎn)的半導(dǎo)體IC產(chǎn)品，都有著層層的測(cè)試及檢驗(yàn)來(lái)為產(chǎn)品的質(zhì)量作把關(guān)。然而一般所指的半導(dǎo)體測(cè)試則是指晶圓制造與IC封裝之后，以檢測(cè)晶圓及封裝后IC的電信功能與外觀而存在的測(cè)試制程。以下即針對(duì)「半導(dǎo)體測(cè)試制程」中之各項(xiàng)制程技術(shù)267瀏覽量 -
芯片可靠性（RE）性能測(cè)試與失效機(jī)理分析2026-01-09 10:02
2025年9月，國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布了六項(xiàng)半導(dǎo)體可靠性測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，為中國(guó)芯片產(chǎn)業(yè)的質(zhì)量基石奠定了技術(shù)規(guī)范。在全球芯片競(jìng)爭(zhēng)進(jìn)入白熱化的今天，可靠性已成為衡量半導(dǎo)體產(chǎn)品核心價(jià)值的關(guān)鍵指標(biāo)。01芯片的“健康指標(biāo)”：半導(dǎo)體可靠性的本質(zhì)半導(dǎo)體可靠性（RE）指的是芯片在規(guī)定條件和時(shí)間內(nèi)，持續(xù)保持其預(yù)定功能的能力。這不僅僅是“能用”，而是在各種復(fù)雜環(huán)境下“穩(wěn)定可靠地 -
半導(dǎo)體測(cè)試，是“下一個(gè)前沿”2025-12-26 10:02
本文由半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)縱橫（ID：ICVIEWS）編譯自3dincites利用人工智能進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試創(chuàng)新，將能夠共享與良率、覆蓋率和成本息息相關(guān)的真實(shí)數(shù)據(jù)。雖然人工智能在半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造領(lǐng)域取得了重大進(jìn)展，但半導(dǎo)體測(cè)試是“下一個(gè)前沿”，它是設(shè)計(jì)與制造之間的橋梁，解決了傳統(tǒng)分離領(lǐng)域之間模糊的界限。更具體地說(shuō)，通過(guò)連接設(shè)計(jì)和制造，測(cè)試可以幫助產(chǎn)品和芯片公司更快地生產(chǎn)出523瀏覽量 -
過(guò)零檢測(cè)電路，有點(diǎn)意思~2025-12-19 10:01
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我就是那個(gè)32歲還在點(diǎn)點(diǎn)點(diǎn)的測(cè)試狗！2025-12-12 10:02
2019年入行，如果你問(wèn)我有沒(méi)有后悔選測(cè)試這條路，說(shuō)實(shí)話，有也沒(méi)有。工作前兩年我?guī)缀跏窃诨烊兆?，完全沒(méi)方向，機(jī)械點(diǎn)點(diǎn)點(diǎn)、提bug，和現(xiàn)在剛?cè)胄械男氯藳](méi)太大差別。那個(gè)階段沒(méi)有成長(zhǎng)、也沒(méi)思考，腦子里沒(méi)有職業(yè)規(guī)劃，甚至連“測(cè)試到底是干什么”都說(shuō)不清。直到第三年，一個(gè)項(xiàng)目出了重大線上問(wèn)題，我被拉去參與復(fù)盤(pán)。那次我第一次意識(shí)到：“測(cè)試，不只是找bug，而是保障質(zhì)量的最 -
為什么資深測(cè)試工程師都離不開(kāi)走查？2025-12-05 10:01
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